微波探头
on-wafer measurement techniques using coplanar microwave probe
共面微波探针在片测试技术研究
Abstract The on-wafer testing system with microwave probe has been made and used to test the GaAs high-speed dynamic frequency divider chips on wafer.
本文研制出多触头微波探针,建立了微波探针在片检测系统.针对GaAs高速集成电路&动态分频器电路芯片进行了在片测试和筛选。
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